Ключевые слова: measurement technique, HTS, YBCO, films, substrate SrTiO3, critical caracteristics, Jc/B curves, critical current distribution, harmonics impact
Awaji S., Watanabe K., Fujiyoshi T., Ikegami T., Ishikawa N., Sueyoshi T., Yonekura K., Yutani S., Sogo T., Adachi A., Mitsugi F.
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.